菲希爾X射線探測(cè)器工作原理

XRF分析方法的最后一個(gè)關(guān)鍵組成部分是探測(cè)器，它接收熒光輻射并以高精度進(jìn)行測(cè)量。來自探測(cè)器的信息被傳遞到分析軟件并進(jìn)行相應(yīng)處理。探測(cè)器的類型決定了您可以使用XRF光譜儀解決哪些測(cè)量任務(wù)。
我們提供市場上探測(cè)器組合。這意味著只有在Fischer，您才能找到適合您的測(cè)量任務(wù)并以最佳方式解決它的探測(cè)器。有三種類型各具特定優(yōu)勢(shì)的探測(cè)器。

在測(cè)量技術(shù)專家的組合中，久經(jīng)考驗(yàn)的比例計(jì)數(shù)器（PC）管是*的。它提供了一個(gè)巨大的探測(cè)器區(qū)域，帶有一個(gè)略微彎曲的窗口。這個(gè)特點(diǎn)使它在大量熒光信號(hào)到達(dá)探測(cè)器時(shí)，能夠?qū)崿F(xiàn)高計(jì)數(shù)率。它可以在距離樣品20–80 mm處進(jìn)行測(cè)量。PC管通常用于1–30µm范圍內(nèi)的涂層厚度測(cè)量和小測(cè)量點(diǎn)。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是，PC管對(duì)樣品與探測(cè)器對(duì)準(zhǔn)的精度和測(cè)量距離設(shè)置的敏感性比較低。PC管配合Fischer開發(fā)的漂移補(bǔ)償為標(biāo)準(zhǔn)，提供了穩(wěn)定性。

對(duì)于要求更高的鍍層厚度測(cè)量，需要更高的能量分辨率。在這種情況下，使用硅PIN二極管的XRF分析儀是一個(gè)很好的選擇。這種半導(dǎo)體探測(cè)器也可以成功地用于簡單的材料分析。因此，硅PIN探測(cè)器是我們探測(cè)器產(chǎn)品組中間環(huán)節(jié)。

高質(zhì)量XRF光譜儀使用硅漂移檢測(cè)器（SDD）。這種探測(cè)器是強(qiáng)大的。它具有特別好的能量分辨率和特別高的檢測(cè)靈敏度。因此，在測(cè)試材料的元素組成時(shí)，SDD提供了所有探測(cè)器中性能。樣品中僅以極低濃度存在的元素的熒光信號(hào)也能很容易檢測(cè)到。此外，配備SDD的儀器可精確確定納米范圍內(nèi)的鍍層厚度，并允許對(duì)復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)進(jìn)行可靠評(píng)估。