菲希爾測厚儀Dualscope FMP150特性:
可更換的探頭可為各種測量任務(wù)提供靈活選擇
在高分辨率圖形觸摸屏上詳細(xì)展示測試方案與檢查計劃
使用 Windows™ CE 操作系統(tǒng)進(jìn)行直觀的操作
通過磁感應(yīng)法和電渦流法進(jìn)行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測量
測量符合標(biāo)準(zhǔn),具有適用于 IMO PSPC、
SSPCPA2、QUALANOD 或 QUALICOAT 的特殊模式
Fischer FMP150菲希爾測厚儀應(yīng)用:
DUALSCOPE用于鋼、鋁和其他非鐵磁性金屬上的涂鍍層,無需更換儀器
Dualscope H FMP150:非鐵磁性金屬或絕緣體上的鎳涂鍍層
非鐵磁性金屬、鐵或鋼上的微米級涂鍍層
非鐵磁性制成的厚涂鍍層或鋼上的保護(hù)涂鍍層