X射線測(cè)厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210菲希爾X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
菲希爾X射線測(cè)厚儀測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
菲希爾X射線測(cè)厚儀測(cè)量薄鍍層,例如裝飾鉻
測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
菲希爾鍍層測(cè)厚儀全自動(dòng)測(cè)量,如測(cè)量印刷線路板
分析電鍍?nèi)芤?/p>
X射線測(cè)厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210設(shè)計(jì)理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。我們會(huì)根據(jù)樣品平臺(tái)的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來(lái)設(shè)定不同型號(hào)的儀器以滿足實(shí)際應(yīng)用的需求。
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