菲希爾X射線測厚儀Fischerscope XDL230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控,典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?br/>菲希爾X射線測厚儀Fischerscope XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 FISCHER *基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行測量和分析。