渦流相敏測厚儀測量精度受哪些因素影響
更新時間：2022-07-15 點擊次數(shù)：1060次
渦流相敏測厚儀采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍。
渦流相敏測厚儀測量精度受哪些因素影響：
1、基底金屬磁性法測厚受基底金屬磁性變化的影響。為了防止溶液和冷加工因素的影響，應使用與試樣母材具有相同性能的標準件來校準儀器。也可以使用待涂覆的試件進行校準。
2、基底金屬厚度每個儀器都有基底金屬的臨界厚度。當厚度大于此值時，測量不受母材厚度的影響。
3、邊緣效應器對試樣外表面形狀的突變很敏感。因此，在試樣邊緣或內(nèi)角附近進行測量是不可靠的。
4、曲率試樣的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的增加而顯著增加。
母材的外表面粗糙度和護罩的外表面粗糙度水平對測量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的外表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。在每次測量期間，應減少不同位置的測量次數(shù)，以抑制這種意外誤差。
6、磁場周圍各種電氣設施產(chǎn)生的強磁場將極大地干擾渦流測厚儀的使用。
7、附著物對與覆蓋層外表面緊密接觸的物質(zhì)敏感，因此有必要清除附著物，以確保儀器探頭與試件外表面直接接觸。
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