費希爾電位差測試儀couloscope cms2 step

費希爾電位差測試儀couloscope cms2 step

在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護(hù)。
COULOSCOPE CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
COULOSCOPE CMS電解多鍍層庫侖法測厚儀可用于測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等

COULOSCOPE CMS2 STEP：

除了與COULOSCOPE CMS2相對應(yīng)的涂層厚度測量外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供符合ASTM B764  -  04和DIN EN 16866的STEP測試功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測量單個涂層厚度和 多種鎳涂層的潛在差異以簡單的標(biāo)準(zhǔn)符合方式。

COULOSCOPE CMS2儀器可測量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層的厚度。

 FISCHER 公司為滿足不同客戶各種需要，開發(fā)出了種類繁多的各式探頭，我們的主機(jī)可以通過接駁不同探頭來滿足不同情況下的測量需求，這就需要客戶掌握主機(jī)和新探頭握手的方法。

 無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標(biāo)。