菲希爾測(cè)厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ

菲希爾測(cè)厚儀Fischerscope X-RAY XDV-µ

Fischerscope X-RAY XDV-µ特點(diǎn)
同時(shí)測(cè)量從Al（13）到U（92）的多達(dá)24個(gè)元素，XDV-μLD:S（16）-U（92）
Fischerscope X-RAY XDV-µ*的多毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可將X射線束聚焦到10μm（FWHM），用于微結(jié)構(gòu)測(cè)量
可編程XY工作臺(tái)和模式識(shí)別，用于多個(gè)樣品的自動(dòng)測(cè)量
擴(kuò)展樣品臺(tái)方便樣品的定位
菲希爾x射線測(cè)厚儀向?qū)叫?zhǔn)過(guò)程
穩(wěn)健設(shè)計(jì)適合長(zhǎng)期使用
光學(xué)顯微鏡（放大270倍），顯示圖像和激光定位點(diǎn)，可顯示精確的測(cè)量點(diǎn)
無(wú)需校準(zhǔn)即可進(jìn)行測(cè)量的基本參數(shù)分析
符合IPC-4552A、4553A、4554和4556，ASTM B568，ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)
Fischer的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片可追溯到的基本單位

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測(cè)試儀儀器特點(diǎn)
•高級(jí)型號(hào)儀器，具有常見(jiàn)的所有功能
•射線激發(fā)量的靈活性很大，激發(fā)量可根據(jù)測(cè)量面積大小和光譜組成而改變
•通過(guò)硅漂移探測(cè)器，在 > 10萬(wàn)cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號(hào)量下也可以正常工作，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
•極低的檢測(cè)下限和出色的測(cè)量重復(fù)度
•帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器
•大容量便于操作的測(cè)量艙
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測(cè)試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
•測(cè)量極薄的鍍層，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
•痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)
•進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
•光伏產(chǎn)業(yè)
•測(cè)量 NiP 鍍層的厚度和成分