費希爾江蘇代理測厚儀XDLM231

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進入自動化測量世界費希爾江蘇代理

菲希爾XDLM231FISCHERSCOPE X-射線 XDL和XDLM光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要組件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個顯著的區(qū)別：XDL和XDLM設備是從上到下進行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-復雜形狀不再是難題！費希爾江蘇代理

菲希爾XDLM231自上而下的測試方式還有另一個優(yōu)點：可以很容易地實現(xiàn)自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可編程的樣品臺，非常適合掃描樣品表面。 因此，您可以檢查較大部件上的鍍層厚度，或自動逐個測量大量的小部件。
與XUL系列一樣，XDLM中的“ M"代表“微聚焦管"。 這意味著這些設備特別適合分析小樣品。 XDLM的測量點直徑僅為0.1毫米，非常適合電子行業(yè)。費希爾江蘇代理

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菲希爾測厚儀兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
菲希爾測厚儀配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時, XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測星點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測星室空間很大,樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體,也可以測星形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測星腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。