菲希爾測(cè)厚儀Dualscope FMP20江蘇代理

菲希爾測(cè)厚儀Dualscope FMP20江蘇代理

Dualscope FMP20測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，Dualscope FMP20它能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量。DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，評(píng)估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀配備有一個(gè)*的和便于讀取的 60 x 30 mm (2.4" x 1.2"))液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便，包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù)，測(cè)量次數(shù)，以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)，2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示
DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法，適用于測(cè)量：
非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鋼和鐵上
油漆，臘克和合成涂層在鋼和鐵上

FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測(cè)量方向從上往下。
XDL-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法（距離控制測(cè)量）自動(dòng)地修正在不同的測(cè)量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對(duì)于XDL-B 帶測(cè)量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復(fù)雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。特別針對(duì)微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量。

全權(quán)負(fù)責(zé)FISCHER產(chǎn)品在中國(guó)地區(qū)的銷售、安裝、維修、備品備件及技術(shù)咨詢等業(yè)務(wù)。
FISCHER生產(chǎn)的涂鍍層測(cè)厚儀主要分為：X射線涂鍍層測(cè)厚及材料分析儀、β射線測(cè)厚儀、電渦流法測(cè)厚儀、電磁感應(yīng)測(cè)厚儀、庫(kù)侖法（多層鎳電位差）測(cè)厚儀，除此之外還有包括 微納米硬度測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀、鐵素體含量測(cè)試儀、孔隙率測(cè)試儀 和 針孔測(cè)試儀 等在內(nèi)的多種測(cè)試儀器。