費(fèi)希爾代理銷售Couloscope CMS2 STEP

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COULOSCOPE CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀

用于質(zhì)量控制的庫侖法鍍層厚度測量
在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達(dá)到了限，這就是COULOSCOPE CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當(dāng)簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測量許多常見的單層和多層鍍層

Couloscope CMS2 STEP測量原理
這個系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕——實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系菲希爾庫倫法測厚儀

菲希爾庫倫法測厚儀測量槽——可比作微型電解缸——被用來剝離鍍層。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制， 用一個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電解液最佳利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。

菲希爾庫倫法測厚儀

 強(qiáng)大并且用戶友好的 Couloscope CMS2 STEP適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)。 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用 CMS2 簡單快速地測量。 這個方法為任何金屬鍍層提供了精確的測量。 在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多材料不需要預(yù)設(shè)定； 基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的。 常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS）基材上，經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個方法進(jìn)行測量。 常見應(yīng)用有金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層、單層或多層的鍍層厚度測量、特別適用于通過 STEP 測試進(jìn)行多層鎳測量、適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測量。

駿展儀器產(chǎn)品覆蓋長度測量儀器,光學(xué)儀器,形狀,工具,材料檢測儀器、涂層和表面處理的測試儀器,已經(jīng)為許多國內(nèi)外大中型企業(yè)提供服務(wù),優(yōu)良的品質(zhì)和完善的服務(wù),贏得了客戶的*,并建立了一個穩(wěn)固的市場地位。公司主要從事物理表面檢測儀器的銷售和服務(wù)。擁有長期致力于行業(yè)的高科技人才和高效的管理團(tuán)隊，人才是公司立足根本保證，也是公司未來發(fā)展的堅實(shí)基礎(chǔ)，是公司更寶貴的財富。

菲希爾SIGMASCOPE SMP350非鐵磁性金屬電導(dǎo)率儀特性：
快速、無損地準(zhǔn)確測量有色金屬的電導(dǎo)率，符合 DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 標(biāo)準(zhǔn)
適用于各種應(yīng)用的電導(dǎo)率探頭
根據(jù)探頭，針對不同滲透深度提供不同測量頻率（范圍為 15 kHz 至 1 MHz）
針對已知曲率直徑的自動曲率補(bǔ)償（蕞小直徑低至 6 mm）
我們提供經(jīng)過認(rèn)證的測量標(biāo)準(zhǔn)（以 MS/m 計，%IACS），可追溯至校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)