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菲希爾x射線測厚儀

更新時間：2024-06-16

訪問量：528

廠商性質(zhì)：代理商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

菲希爾x射線測厚儀，XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。

在線詢價聯(lián)系我們

產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,石油,能源,電子

菲希爾x射線測厚儀

XAN 215 X射線熒光鍍層測厚儀

菲希爾測厚儀產(chǎn)品用途

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

●菲希爾測厚儀珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

●菲希爾測厚儀黃金制品和K金制品分析

●菲希爾x-ray鉑金制品和銀制品分析

●菲希爾x-ray銠制品分析

●菲希爾代理其他合金分析和鍍層厚度測量

●菲希爾代理多鍍層厚度測量

菲希爾代理FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

通用規(guī)格
設(shè)計用途	采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
元素范圍	從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。
重復(fù)性	測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
形式設(shè)計	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由下往上
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓	三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準直器）	φ1mm；可選φ2mm
測量點尺寸	當(dāng)測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器	采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
能量分辨率（Mn元素Kα半高寬）	≤180eV
測量距離	0 10mm
測量距離	通過受保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。
樣品定位
樣品放置	手動
視頻系統(tǒng)	高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監(jiān)控
視頻系統(tǒng)	十字線（帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸），可調(diào)節(jié)亮度的LED照明
圖像發(fā)達倍數(shù)	40x~160x
工作臺
形式設(shè)計	固定工作臺
樣品放置可用區(qū)域	310x320mm
樣品大重量	13KG
樣品高高度	90mm
電氣參數(shù)
電源要求	AC 220V 50Hz
功耗	大120W（不包括計算機）
保護等級	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸（寬x深x高）	403x588x365mm
重量	大約45KG
環(huán)境要求
使用時溫度	10℃~40℃
存儲或運輸時溫度	0℃~50℃
空氣相對濕度	≤95%，無結(jié)露
計算單元
計算機	Windows®-PC
軟件	標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
軟件	可選：Fischer WinFTM®
執(zhí)行標準
CE合格標準	EN 61010
X射線標準	DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批準
形式批準	符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定