Fischer熒光射線測厚儀XAN252

Fischer熒光射線測厚儀XAN252

菲希爾XAN252高性能X射線熒光測量儀，配有硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

菲希爾XAN252特點

菲希爾XAN252高性能機(jī)型，具有強(qiáng)大的綜合測量能力

fischer XAN252配有4 個電動調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

fischer XAN252配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

fischer XAN252由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位  

菲希爾熒光射線測厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

菲希爾熒光射線測厚儀對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進(jìn)行測量

菲希爾熒光射線測厚儀對有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

fischer代理在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進(jìn)行高精度的分析

fischer代理用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。

Fischer XAN500采用*的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

使用Fischer XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。設(shè)計結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。