多層鍍層厚度測量菲希爾代理

多層鍍層厚度測量菲希爾代理

菲希爾代理適合各種應(yīng)用的合適設(shè)備

菲希爾代理和XUL系列一樣，F(xiàn)ISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優(yōu)勢在于其高質(zhì)量的半導(dǎo)體探測器。X射線熒光不僅可以測量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成分。

XAN系列總共包括5款臺式XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應(yīng)用范圍。XAN215具有經(jīng)濟高效的PIN檢測器。非常適合簡單的鍍層厚度任務(wù)，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對于更復(fù)雜的合金或貴金屬應(yīng)用，我們建議使用帶有硅漂移檢測器SDD的設(shè)備（例如XAN220）：由于其分辨率更高，可以可靠地區(qū)分金和鉑。當您需要檢測痕量重金屬和其他有害物質(zhì)時，XAN250是您的理想選擇。

多層鍍層厚度測量應(yīng)用

多層鍍層厚度測量牙科合金的無損分析，銀測試

菲希爾x射線測厚儀多層鍍層測試

菲希爾x射線測厚儀電子和半導(dǎo)體行業(yè)中厚度為10nm以上的功能涂層的分析

菲希爾xan252消費者保護中的痕量分析，例如測試玩具中的鉛含量

菲希爾xan252根據(jù)珠寶業(yè)和煉油廠最高精度要求測量金屬合金含量

fischer xan252特點

fischer xan252高性能機型，具有強大的綜合測量能力

配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位  

駿展儀器產(chǎn)品覆蓋長度測量儀器,光學(xué)儀器,形狀,工具,材料檢測儀器、涂層和表面處理的測試儀器,已經(jīng)為許多國內(nèi)外大中型企業(yè)提供服務(wù),優(yōu)良的品質(zhì)和完善的服務(wù),贏得了客戶的*,并建立了一個穩(wěn)固的市場地位。公司主要從事物理表面檢測儀器的銷售和服務(wù)。擁有長期致力于行業(yè)的高科技人才和高效的管理團隊，人才是公司立足的根本保證，也是公司未來發(fā)展的堅實基礎(chǔ)，是公司更寶貴的財富。