金銀鎳鍍層測厚儀

Fischerscope x-ray XAN菲希爾X射線測厚儀

Fischerscope X-RAY XAN® 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準確測量。該系列產(chǎn)品簡單易用且性價比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

性：

• 操作簡單且性價比高。

• 自下而上進行測量，從而快速、簡便地定位樣品

• 廣泛適用：為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號

• 以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析

• 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型，可對薄鍍層及微量成分進行精確測量

Fischerscope X-RAY XAN應(yīng)用：

Fischerscope X-RAY XAN鍍層厚度測量

• 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層

• 時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進行分析

• 抗磨損鍍層，如：對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進行測量

• 測試納米級基礎(chǔ)金屬化層（凸點下金屬化層，UBM）

Fischerscope X-RAY XAN材料分析

• 測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度

• 專業(yè)實驗室、檢測機構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析

• 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）

• 功能性鍍層的成分，如測定化學(xué)鎳中的磷含量。

Fischerscope X-RAY XAN XUL / XULM

在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時，XUL®系列測量儀器是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。

金銀鎳鍍層測厚儀